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            HAST試驗

            HAST試驗

            高加速溫濕度應力測試(HAST)是一種以溫濕度為環(huán)境參數的高加速電子元器件可靠性測試方法。 HAST 也稱(chēng)為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試 (USPCT)。其目的是通過(guò)將測試室中的水蒸氣壓力增加到高于測試樣品內部水蒸氣分壓的極高水平來(lái)評估測試樣品的耐濕性。這個(gè)過(guò)程在時(shí)間上加速了水分滲入樣品中。

            在線(xiàn)聯(lián)系

            服務(wù)能力

            武漢金測實(shí)驗室擁有50L的HASA試驗箱及應力篩選系統,可對潮濕環(huán)境下非密封封裝器件進(jìn)行可靠性評估。利用嚴酷的溫度,濕度及偏置條件來(lái)加速水穿過(guò)外部保護材料或者沿外部保護材料-金屬導體界面滲入,UHAST是不加偏置電壓,以確保能夠發(fā)現可能被偏壓掩蓋的失效機理(如電偶腐蝕)。


            適用范圍

            本測試適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件等。對于大型整機,宜優(yōu)先考慮在前端的裝配級別(如印制電路板組件、子模塊)上進(jìn)行試驗。還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)、設計和(或)試產(chǎn)階段,也可用于批量生產(chǎn)階段。


            相關(guān)資質(zhì)

            CNAS


            設備能力

            溫度105℃~143℃±0.3 ℃、濕度75%RH~100%RH±3%RH、壓力1.2kg/cm2~4.0kg/cm2


            測試標準

            GB/T 29309-2012 《電工電子產(chǎn)品加速應力試驗規程高加速壽命試驗導則》 

            GMW 8287 Revision / Edition: 2 《HIGHLY ACCELERATED LIFE TESTING (HALT) HIGHLY ACCELERATED STRESS SCREENING AND AUDITING》


            試驗照片


            • HALT-HASA試驗-1.jpg

              試驗設備

            • HALT-HASA試驗-2.jpg

              試驗過(guò)程

            • HALT-HASA試驗-3.jpg

              試驗曲線(xiàn)

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            案例推薦

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            新增檢測項目

            冰水沖擊試驗 車(chē)燈復合零氣試驗

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