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            HAST試驗箱

            HAST試驗箱

            高加速壽命試驗箱(HAST試驗箱)是一種用于進(jìn)行高加速應力測試的設備。它主要用于評估電子元器件、電路板和其他電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境條件下的可靠性和耐久性。

            在線(xiàn)聯(lián)系

            適應范圍

            適用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線(xiàn)路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴(lài)性試驗等行業(yè)。


            測試項目

            HAST測試項目主要包括:電性能測試、可靠性測試。其中,電性能測試包括電阻、電容、電感等參數的測試;可靠性測試則包括在高溫高濕條件下的耐壓、絕緣電阻、外觀(guān)等項目的測試。


            測試范圍

            溫度范圍:105~142.9℃

            濕度范圍:75%~100%RH

            壓力范圍:0.02~0.186Mpa


            測試依據

            《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分:強加速穩態(tài)濕熱試驗(HAST)》 GB/T 4937.4-2012

            《高加速濕熱應力試驗》JESD22-A110D-2010

            《非氣密固態(tài)表面貼裝器件 潮濕/再流焊敏感度分級》IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008


            試驗照片


            • HAST試驗箱1.jpg

              試驗設備

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